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EVO 40XVP Rasterelektronenmikroskop
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Anwendungsgebiet
Untersuchung von Oberflächen (hohe Vergrößerung und Tiefenschärfe)
Nutzungsbedingung
Nutzung nur durch eingewiesenes Hauspersonal
Hersteller
Carl Zeiss NTS GmbH
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Verantwortlichkeit
Hockauf, Kristin
Prof. Dr.-Ing.
Raum
5-238B