Development of a time-resolved white-light interference microscope for optical phase measurements during fs-laser material processing Konferenzpaper
Überblick
AutorInnen
Veröffentlichungsjahr
- 2010
Beitrag veröffentlicht in
- Applied Physics A Zeitschrift
Weitere Informationen Zum Dokument
Zugangsrechte
- Open Access
Band
- 101
Startseite
- 231
letzte Seite
- 235