Time-resolved white-light interferometry for ultrafast metrology Konferenzpaper

Schlagwort Lasertechnologien

Lasermesstechnik

AutorInnen

Mingareev, I.
Wortmann, D.
Horn, Alexander

Veröffentlichungsjahr

2010

Beitrag veröffentlicht in

AIP Conference Proceedings Konferenzband

Zugangsrechte

false

Band

1278

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891

Digital Object Identifier (DOI)

https://doi.org/10.1063/1.3507185