Abstract
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Die Erfindung betrifft Verfahren und Einrichtungen zur schnellen integralen und berührungslosen Messung der Rauigkeit wenigstens eines Bereiches der Oberfläche eines Gegenstandes.
Die Verfahren und Einrichtungen zeichnen sich insbesondere dadurch aus, dass die Rauigkeit der Oberflächen berührungslos und zerstörungsfrei einfach ermittelbar ist. Dazu wird mittels der Einrichtung der Bereich der Oberfläche des Gegenstandes mit Laserstrahlen wenigstens eines Lasers beaufschlagt und die aus der Erwärmung resultierende abgestrahlte elektromagnetische Strahlung des Bereiches der Oberfläche über eine Messeinrichtung erfasst. Aus den Messungen der elektromagnetischen Strahlung werden die Höhe und der zeitliche Verlauf der Temperatur des Bereiches der Oberfläche bestimmt, wobei der Temperaturanstieg ein indirektes Maß für die Rauigkeit des Bereiches der Oberfläche ist.
Aus den Messungen der elektromagnetichen Strahlung werden der Temperaturverlauf des Bereichs der Oberfläche bestimmt und der Temperaturverlauf mit der Rauigkeit des Bereiches der Oberfläche korreliert. Das erfolgt vorteilhafterweise mit einem Datenverarbeitungssystem, das mit der Messeinrichtung zusammengeschaltet ist.